產品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數試驗測試儀
GDW-250電阻高溫度特性測試試驗臺
NLD-AI全自動高壓漏電起痕試驗 漏電測試儀
GEST-121體積表面電阻測定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測量儀
GCSTD-FI液體高低介電常數及介質損耗測試儀
PMQS-I新款國產泡沫起升儀PMQS
FTDZ-I粉末電阻率測試儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強度試驗儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗機
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數測試儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測試儀
當前位置：首頁
產品中心粉末綜合測試儀1600-顆粒圖像分析儀ZKFT-1600顯微顆粒圖像儀
顯微顆粒圖像儀
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 冠測儀器 | 適用行業 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 可測粒度范圍 | 30°-50°. | 顯示方式 | 其他 |
| 執行質量標準 | 國標 | 產地 | 進口 |
| 加工定制 | 是 | 分辨率 | 2592?x?1944?(Approx.5,040,000像素) |
| 傳感器尺寸 | 傳感器尺寸1/2.5“?(對角線7.13mm) | 1/2.5“?(對角線7.13mm) | 2.2μm?x?2.2μm |
| 成像區域尺寸 | 5.70mm(H)?x?4.28mm(V) | G光靈敏度 | 0.53v/lux-sec(550nm) |
| 動態范圍 | 66.5dB | 信噪比 | 40.5dB |
| 10X目鏡 | 1對 | 攝像頭 | 500萬像素 |
ZKFT-1600顯微顆粒圖像儀
一、產品簡介
顯微顆粒圖像儀 ZKFT-1600圖像顆粒分析儀包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。它的基本工作流程是通過專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸到電腦中，通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析，從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息，再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統計，從而得到粒度（D50）及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。
ZKFT-1600直觀、形象、準確特點，它是將微米級以上的顆粒放大幾十、數百乃至上千倍，將整個顆粒形狀顯示在人們的眼前，使人一目了然。它不僅能看到顆粒，還能通過“尺子"來量每一個顆粒的大小，并通過圖像處理技術得到所有顆粒的直徑，進而得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等。ZKFT-1600為粉體材料的科研、生產和應用領域增添了一種直觀、簡便、準確的粒度粒形測試手段。
ZKFT-1600靜態圖像顆粒分析儀還具有很多圖像處理功能，包括自動拍攝、自動分割、自動填充、批處理多幅圖像、準確性標定等。其中眾多的“自動"功能簡化了操作，提高了效率；批處理多幅圖像功能，克服了傳統的靜態圖像顆粒分析儀僅能分析單幅圖像，導致顆粒數太少，代表性不足，結果不準確的問題。它可以拍攝很多幅圖像，對這些圖像一幅一幅地處理，每一幅處理過的圖像上的顆粒都匯集到一起，提高了代表性。
二、產品特點:
*出色的外觀設計，符合人機工程學的結構設計
*機身一體化的設計，使產品長期保持優異穩定性能
*優質的3WLED照明，穩定和超常使用壽命
*無限遠色差校正光學系統，普通光學校正系統，可滿足不同用戶的需求
三、主要應用領域：（觀察粒形、分析粒度、監測大顆粒）
• 磨料：如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。
• 電池材料：球形石墨粉等。
• 金屬粉：如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。
• 非金屬粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。
• 針狀粉：如硅灰石等。
• 生物制劑：如細胞。
• 食品：如牛奶、面粉等。
• 其他：如科研、教學等。
四、測試原理
• 標定方法：用顯微鏡專用標準刻度尺直接標定每個像素的尺寸，再根據每個顆粒圖像面積所占的像素多少來度量顆粒的大小，以微米為單位。
• 測試原理：通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等。為計算方便，ZKFT-1600圖像顆粒分析儀是以100個像素為一個計量單位的。
上一個：
返回列表
